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  • 1
    UID:
    b3kat_BV000228592
    Format: 203 S.
    ISBN: 3540129960 , 0387129960
    Language: German
    Subjects: Computer Science
    RVK:
    RVK:
    Keywords: Mikrocomputer ; Zuverlässigkeit ; Mikroprozessor ; Zuverlässigkeit
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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  • 2
    Online Resource
    Online Resource
    Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg
    UID:
    b3kat_BV042434569
    Format: 1 Online-Ressource (VI, 206 S.)
    ISBN: 9783642932571 , 9783540129967
    Note: Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur bei Ge­ raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men­ schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber­ mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus­ wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement "Mikroprozessor" abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes­ sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent­ lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver­ ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz­ maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis­ kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu­ mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei­ terarbeitet. So bemerkt z. B.
    Language: German
    Keywords: Mikrocomputer ; Zuverlässigkeit ; Mikroprozessor ; Zuverlässigkeit
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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