Umfang:
X, 124 S.
,
Ill., graph. Darst.
Ausgabe:
Als Ms. gedr.
ISBN:
3183524082
Serie:
Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 8] 524
Anmerkung:
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1995
Sprache:
Deutsch
Fachgebiete:
Technik
Schlagwort(e):
Integrierte Schaltung
;
Testbarkeit
;
Rasterkraftmikroskopie
;
Fehlererkennung
;
Analoge integrierte Schaltung
;
VLSI
;
Elektrische Eigenschaft
;
Testbarkeit
;
Rasterkraftmikroskopie
;
Fehlererkennung
;
Digitale integrierte Schaltung
;
VLSI
;
Elektrische Eigenschaft
;
Testbarkeit
;
Rasterkraftmikroskopie
;
Fehlererkennung
;
Hochschulschrift
;
Hochschulschrift
Bookmarklink