feed icon rss

Ihre E-Mail wurde erfolgreich gesendet. Bitte prüfen Sie Ihren Maileingang.

Leider ist ein Fehler beim E-Mail-Versand aufgetreten. Bitte versuchen Sie es erneut.

Vorgang fortführen?

Exportieren
Filter
  • TU Berlin  (3)
  • ÖB Kleinmachnow
  • HTW Berlin
  • Polnisches Institut
  • Bundesarchiv
  • Hart, Peter Edward  (3)
  • Mustererkennung  (3)
Medientyp
Sprache
Region
Bibliothek
  • TU Berlin  (3)
  • ÖB Kleinmachnow
  • HTW Berlin
  • Polnisches Institut
  • Bundesarchiv
  • +
Erscheinungszeitraum
Person/Organisation
Schlagwörter
  • Mustererkennung  (3)
  • 1
    Online-Ressource
    Online-Ressource
    New York [u.a.] :John Wiley & Sons,Inc.,A Wiley-Interscience Publication,
    UID:
    edocfu_BV044558790
    Umfang: 1 Online-Ressource (XX, 654 Seiten) : , Illustrationen.
    Ausgabe: Second edition
    ISBN: 978-1-118-58600-6
    Serie: A Wiley-interscience publication
    Anmerkung: Erg. bildet: Stork, David G.: Computer manual in MATLAB to accompany Pattern Classification, second edition
    Weitere Ausg.: Erscheint auch als Druck-Ausgabe ISBN 978-0-471-05669-0
    Früher: 1. Auflage Duda, Richard O. Pattern classification and scene analysis
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Informatik , Wirtschaftswissenschaften , Mathematik
    RVK:
    RVK:
    RVK:
    RVK:
    Schlagwort(e): Mustererkennung
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
  • 2
    Online-Ressource
    Online-Ressource
    New York [u.a.] :John Wiley & Sons,Inc.,A Wiley-Interscience Publication,
    UID:
    almafu_BV044558790
    Umfang: 1 Online-Ressource (XX, 654 Seiten) : , Illustrationen.
    Ausgabe: Second edition
    ISBN: 978-1-118-58600-6
    Serie: A Wiley-interscience publication
    Anmerkung: Erg. bildet: Stork, David G.: Computer manual in MATLAB to accompany Pattern Classification, second edition
    Weitere Ausg.: Erscheint auch als Druck-Ausgabe ISBN 978-0-471-05669-0
    Früher: 1. Auflage Duda, Richard O. Pattern classification and scene analysis
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Informatik , Wirtschaftswissenschaften , Mathematik
    RVK:
    RVK:
    RVK:
    RVK:
    Schlagwort(e): Mustererkennung
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
  • 3
    Online-Ressource
    Online-Ressource
    New York [u.a.] : John Wiley & Sons,Inc.,A Wiley-Interscience Publication
    UID:
    b3kat_BV044558790
    Umfang: 1 Online-Ressource (XX, 654 Seiten) , Illustrationen
    Ausgabe: Second edition
    ISBN: 9781118586006
    Serie: A Wiley-interscience publication
    Anmerkung: Erg. bildet: Stork, David G.: Computer manual in MATLAB to accompany Pattern Classification, second edition
    Weitere Ausg.: Erscheint auch als Druck-Ausgabe ISBN 978-0-471-05669-0
    Früher: 1. Auflage Duda, Richard O. Pattern classification and scene analysis
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Informatik , Wirtschaftswissenschaften , Mathematik
    RVK:
    RVK:
    RVK:
    RVK:
    Schlagwort(e): Mustererkennung
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
Schließen ⊗
Diese Webseite nutzt Cookies und das Analyse-Tool Matomo. Weitere Informationen finden Sie auf den KOBV Seiten zum Datenschutz