Online-Ressource
Aharonian, F.
;
An, Q.
;
Axikegu
;
[weitere]
Bai, L.X.
;
Bai, Y.X.
;
Bao, Y.W.
;
Bastieri, D.
;
Bi, X.J.
;
Bi, Y.J.
;
Cai, H.
;
Cai, J.T.
;
Cao, Z.
;
Chang, J.
;
Chang, J.F.
;
Chang, X.C.
;
Chen, B.M.
;
... und noch 240
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
;
2021
In:
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol. 68, No. 8 ( 2021-8), p. 2257-2267
In:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 68, No. 8 ( 2021-8), p. 2257-2267
Materialart:
Online-Ressource
ISSN:
0018-9499
,
1558-1578
DOI:
10.1109/TNS.2021.3092739
Sprache:
Unbekannt
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Publikationsdatum:
2021
ZDB Id:
218510-6
ZDB Id:
2025398-9
Bookmarklink
Bibliothek |
Standort |
Signatur |
Band/Heft/Jahr |
Verfügbarkeit |