Format:
XIX, 406 S.
,
Ill., graph. Darst.
Edition:
4. ed.
ISBN:
9780199668632
,
9780198795834
Note:
Bis 2. Aufl. u.d.T.: Spence, John C.: Experimental high-resolution electron microscopy
,
Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Language:
English
Subjects:
Physics
Keywords:
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
;
Elektronenmikroskopie
;
Hochauflösendes Verfahren
;
Struktur
;
Festkörper
;
Elektronenbeugung
Author information:
Spence, John C. H.
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