Format:
XIV, 201 Seiten
,
Illustrationen, Diagramme
,
21 cm x 14.8 cm, 323 g
ISBN:
9783844049312
,
3844049312
Series Statement:
Berichte aus der Elektrotechnik
Note:
Dissertation Technische Universität Berlin 2016
Language:
English
Subjects:
Engineering
Keywords:
Leistungshalbleiter
;
Silicium
;
Kupfer
;
Metallisieren
;
Dickdrahtbonden
;
Mikrostruktur
;
Einflussgröße
;
Strombelastung
;
Diffusionsbarriere
;
Degradation
;
Hochschulschrift
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