Format:
XVI, 112 Bl.
,
Ill., graph. Darst.
Edition:
[Mikrofiche-Ausg.]
Edition:
Mikrofiche-Ausgabe 2 Mikrofiches
Note:
Zürich, Eidgenöss. Techn. Hochsch., Diss.
Additional Edition:
Reproduktion von Schitter, Georg Model based control of atomic force microscopes 2004
Language:
English
Keywords:
Hochschulschrift
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