Format:
IX, 99 S.
,
Ill., graph. Darst. : 21 cm
Edition:
1. Aufl.
ISBN:
3896853686
Note:
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2000
Language:
English
Keywords:
Drei-Fünf-Halbleiter
;
MOCVD-Verfahren
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Kristallwachstum
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Ellipsometrie
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Reflexionsspektroskopie
;
Hochschulschrift
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Hochschulschrift
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