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Technology assessment in a globalized worldfacing the challenges of transnational technology governance Sonstige Pers.: Hennen, Leonhard ¬[Herausgeber] ; Hahn, Julia ¬[Herausgeber] ; Ladikas, Miltos ¬[Herausgeber] ; Lindner, Ralf ¬[Herausgeber] ; Peissl, Walter, 1959- ¬[Herausgeber] ; Est, Quirinus Cornelis ¬van ¬[Herausgeber] Ersch.-Ort, Verlag, Ersch.-Jahr: Cham, Switzerland, Springer, 2023 Umfang: 1 Online-Ressource ISBN: 978-3-031-10617-0 in die Merkliste | |
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hier klicken Volltext: hier klicken Sonstige Pers.: Hennen, Leonhard ¬[Herausgeber] Sonstige Pers.: Hahn, Julia ¬[Herausgeber] Sonstige Pers.: Ladikas, Miltos ¬[Herausgeber] Sonstige Pers.: Lindner, Ralf ¬[Herausgeber] Sonstige Pers.: Peissl, Walter, 1959- ¬[Herausgeber] Sonstige Pers.: Est, Quirinus Cornelis ¬van ¬[Herausgeber] Titel: Technology assessment in a globalized world Titelzusatz: facing the challenges of transnational technology governance Verantwortlich: Leonhard Hennen, Julia Hahn, Miltos Ladikas, Ralf Lindner, Walter Peissl, Rinie van Est, editors Ersch.-Ort: Cham, Switzerland Verlag: Springer Ersch.-Jahr: [2023] ISBN: 978-3-031-10617-0 Umfang: 1 Online-Ressource Beziehung: Erscheint auch als, Druck-Ausgabe, Hardcover, 978-3-031-10616-3 Beziehung: Erscheint auch als, Druck-Ausgabe, Paperback, 978-3-031-10619-4 LoC-Schlagwort: ¬a Political science LoC-Schlagwort: ¬a Science—Social aspects LoC-Schlagwort: ¬a Globalization Sprache: eng |
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