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Technology assessment in a globalized worldfacing the challenges of transnational technology governance Verlagsort, Verlag, Jahr: Cham, Switzerland, Springer, [2023] ISBN: 978-3-031-10617-0 in die Merkliste | |
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Medienart:
eBook Open Access
Titel: Technology assessment in a globalized world Zusatz z. Titel: facing the challenges of transnational technology governance Hrsg./Bearb.: Hennen, Leonhard ¬[Herausgeber] Hrsg./Bearb.: Hahn, Julia ¬[Herausgeber] Hrsg./Bearb.: Ladikas, Miltos ¬[Herausgeber] Hrsg./Bearb.: Lindner, Ralf ¬[Herausgeber] Hrsg./Bearb.: Peissl, Walter ¬[Herausgeber] Hrsg./Bearb.: Est, Quirinus Cornelis ¬van ¬[Herausgeber] Vorlageform: Leonhard Hennen, Julia Hahn, Miltos Ladikas, Ralf Lindner, Walter Peissl, Rinie van Est, editors Verlagsort: Cham, Switzerland Verlag: Springer ISBN: 978-3-031-10617-0 Jahr: [2023] Umfangsangabe: 1 Online-Ressource Volltext: hier klicken Volltext: hier klicken Sprache: eng Verbund-ISN: BV048688475 |
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