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Clusteranalyse


Einführung in Methoden und Verfahren der automatischen Klassifikation ; mit zahlreichen Algorithmen, FORTRAN-Programmen, Anwendungsbeispielen und einer Kurzdarstellung der multivariaten statistischen Verfahren

Autor/Hrsg.: Steinhausen, Detlef,     Langer, Klaus    
Verlagsort, Verlag, Jahr: Berlin [u.a.], de Gruyter, 1977
Umfangsangabe: 206 S.
ISBN/ISSN: 3-11-007054-5

 

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TEMP153712
Deutsches Technikmuseum