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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1285399021
Titel Conductive Atomic Force Microscope Nanopatterning of Epitaxial Graphene on SiC (0001) in Ambient Conditions
Person(en) Alaboson, Justice M. P. (Verfasser)
Wang, Qing Hua (Verfasser)
Kellar, Joshua A. (Verfasser)
Park, Joohee (Verfasser)
Elam, Jeffrey W. (Verfasser)
Pellin, Michael J. (Verfasser)
Hersam, Mark C. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023040506242213675849
DOI: 10.1002/adma.201100367
URL https://doi.org/10.1002/adma.201100367
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 07.03.2011
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced materials (Bd. 23, 2011, Nr. 19: 2181-2184. 4 S.)

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