High resolution focused ion beams : FIB and its applications ; the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology / Jon Orloff; Mark Utlaut and Lynwood Swanson

Orloff, Jon ; Utlaut, Mark ; Swanson, Lynwood

Englisch

New York [u.a.] : Kluwer Academic/Plenum, c 2003

X, 303 S : Ill., graph. Darst

Literaturangaben

Exemplare erscheinen in unterschiedlichen Größen (Formate)

0-306-47350-X : £94.50

*Ionenstrahl / Fokussierung

*Ionenstrahl / Festkörperoberfläche / Anwendung

*Focused ion beams -- Industrial applications ; Ion bombardment -- Industrial applications

Klassifikation der Library of Congress: QC702.7.B65

Dewey Dezimal-Klassifikation: 621.38152

Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6200

http://www.loc.gov/catdir/toc/fy036/2002028661.html [Table of contents]

http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2002028661-d.html [Publisher description]

Potsdamer Straße

BIBTEX - ENDNOTE - RIS