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564719501

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	PPN:	564719501
	Titel:	Defects in microelectronic materials and devices / ed. by Daniel M. Fleetwood; Sokrates T. Pantelides; Ronald D. Schrimpf
	Verfasser:	Fleetwood, Daniel M.
	Sonst. Personen:	Pantelides, Sokrates T. ; Schrimpf, Ronald D. ; Pantelides, Sokrates ca. 20./21. Jh. ; Schrimpf, Ronald Donald
	Ort/Jahr:	Boca Raton, Fla. [u.a.] : CRC Press, 2009
	Sprache/n:	Englisch
	Umfang:	XVI, 753 S. : Ill., graph. Darst.
	Anmerkung:	Includes bibliographical references and index
	ISBN:	978-1-4200-4376-1
	Schlagwörter:	Mikroelektronik / Werkstoff Integrated circuits ; Metal oxide semiconductor field-effect transistors ; Microelectronics *Microelectronics -- Materials -- Testing ; Metal oxide semiconductor field-effect transistors -- Testing ; Integrated circuits -- Defects ; Microelectronics -- Materials -- Testing ; Metal oxide semiconductor field-effect transistors -- Testing ; Integrated circuits -- Defects
	Klassifikation:	Library of Congress Classification: TK7871 Dewey Decimal Classification: [22] 621.381 Basisklassifikation: 50.16 (Technische Zuverlässigkeit; Instandhaltung) \| 53.09 (Werkstoffe der Elektrotechnik) \| 51.40 (Werkstoffe für bestimmte Anwendungsgebiete) RVK: ZN 4040: ZG-ZS Technik / ZN Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik / ZN 4000-ZN 4090 Technische Elektronik / Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte
	Links zum Titel:	Inhaltsverzeichnis

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