Umfang:
1 Online-Ressource (VIII, 172 S. 45 Abb)
Ausgabe:
2., verbesserte Auflage
ISBN:
9783322989932
,
9783322989949
Anmerkung:
Röntgenstrahlen sind elektromagnetische Wellen, deren Wellenlänge kürzer ist als die des sichtbaren Lichtes und in der Größenordnung atomarer Abstände in Kristallen liegt (ca. 100 pm). Sie bilden die Grundlage für eine Reihe verschiedener Untersuchungsverfahren, die man in vier große Gruppen einteilen kann: 1. Röntgendurchleuchtungstechnik und Grobstrukturanalyse 2. Röntgenbeugungsverfahren bzw. Feinstrukturanalyse 3. Röntgen-Emissionsanalyse (Fluoreszenzanalyse) 4. Sonderverfahren Das vorliegende Buch beschäftigt sich vorwiegend mit der zweiten Gruppe von Untersuchungsverfahren, mit Beugungsphänomenen. Röntgenstrahlen werden nämlich an den periodisch angeordneten atomaren Bausteinen kristallinen Materials gebeugt, wobei charakteristische Beugungsbilder entstehen können. Es ist hierbei keineswegs notwendig, daß immer gut ausgebildete Einkristalle vorliegen. Sehr viele Untersuchungsverfahren werden an feinen Kristallpulvern durchgeführt, die man von den meisten Materialien leicht erhält. Da die Beugungsbilder für jede Substanz charakteristisch sind, können sie ähnlich wie Fingerabdrücke, zur Identifizierung mikrokristalliner Materialien herangezogen werden. Die Analyse von Pulveraufnahmen ermöglicht ferner die Bestimmung des Kristallsystems sowie der Gitterkonstanten. In günstigen Fallen kann man allein aus Pulveraufnahmen Angaben über die Anordnung der Atome im Kristall machen, also eine Kristallstrukturanalyse durchführen. Darüber hinaus erhält man aus Pulveraufnahmen Aussagen über den Kristallisationsgrad, über Gitterfehler sowie über Primärteilchengrößen. Auch quantitative Phasenanalysen und Texturbestimmungen sind möglich. Dieser vielfältige Anwendungsbereich von Röntgenpulveraufnahmen hat dazu geführt, daß sich heute nicht nur Kristallographen und Mineralogen mit diesem Gebiet beschäftigen, sondern vor allem Chemiker, Metallurgen und ganz allgemein Naturwissenschaftler bedienen sich dieser Verfahren
Sprache:
Deutsch
Schlagwort(e):
Röntgenfeinstrukturanalyse
;
Rietveld-Methode
;
Röntgenstrukturanalyse
;
Einführung
;
Einführung
DOI:
10.1007/978-3-322-98993-2
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