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  • Krischner, Harald  (3)
  • Einführung  (3)
  • 1
    UID:
    b3kat_BV002408441
    Format: IX, 193 S. , Ill., graph. Darst.
    Edition: 4., überarb. Aufl.
    ISBN: 3528383240
    Note: 5. Aufl. u.d.T.: Krischner, Harald: Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode
    Later: Ab 5. Aufl. u.d.T. Krischner, Harald Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode
    Language: German
    Subjects: Engineering , Chemistry/Pharmacy , Physics
    RVK:
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    Keywords: Röntgenfeinstrukturanalyse ; Rietveld-Methode ; Röntgenstrukturanalyse ; Einführung
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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  • 2
    UID:
    b3kat_BV042461377
    Format: 1 Online-Ressource (X, 196 S. 49 Abb)
    Edition: 4., überarbeitete Auflage
    ISBN: 9783322989727 , 9783322989734
    Note: Auf dem Gebiet der Röntgenfeinstrukturanalyse sind seit dem ersten Erscheinen dieses Buches wesentliche Fortschritte erzielt worden. Ich bin daher gerne der Aufforde­ rung von verschiedener Seite nachgekommen, das Buch zu ergänzen und modernen Ent­ wicklungen Rechnung zu tragen. Neben einer Reihe kleinerer Verbesserungen und Ergänzungen wurden einige Abschnitte völlig neu gestaltet. Die Einführung mikroprozessorgesteuerter Pulverdiffrakto­ meter, deren Aufbau und Wirkungsweise beschrieben wird, hat die Meßtechnik bei Pulver­ untersuchungen stark verändert. Die direkte Datenerfassung und Datenauswertung an integrierten Rechenanlagen stellt hohe Ansprüche an die Auswerteverfahren. Diese mußten daher eingehender, vor allem in Hinblick auf Automatisierungsmöglichkeiten, besprochen werden. Ein eigenes Kapitel beschäftigt sich mit den Direkten Methoden der Phasenbestim­ mung. Die Fortschritte auf diesem Gebiet haben eine universelle Anwendung der Beugungs­ methoden für Kristallstrukturbestimmungen erst möglich gemacht und wesentlich dazu beigetragen, daß Kristallstrukturanalysen in fast allen Bereichen der Naturwissenschaften eine zunehmende Bedeutung erlangt haben. Da die Grundlagen Direkter Methoden bisher in der deutschsprachigen Literatur eher stiefmütterlich behandelt wurden, halte ich es für durchaus gerechtfertigt, sie hier einem breiteren Kreis zugänglich zu machen. Um das Buch auch für diejenigen Leser attraktiv zu gestalten, die vor allem an den Ergebnissen von Kristallstrukturanalysen interessiert sind, wurden verschiedene Abschnitte erweitert und der Interpretation von Ergebnissen, etwa in Hinblick auf Temperaturfaktoren oder den R-Wert, etwas ausführlicher gestaltet. Außerdem wurde eine übersicht über die gebräuchlichsten kristallographischen Programmsysteme gegeben und auf die kristallo­ graphischen Datenbanken hingewiesen
    Language: German
    Keywords: Röntgenfeinstrukturanalyse ; Rietveld-Methode ; Röntgenstrukturanalyse ; Einführung
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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  • 3
    UID:
    b3kat_BV042461386
    Format: 1 Online-Ressource (VIII, 172 S. 45 Abb)
    Edition: 2., verbesserte Auflage
    ISBN: 9783322989932 , 9783322989949
    Note: Röntgenstrahlen sind elektromagnetische Wellen, deren Wellenlänge kürzer ist als die des sichtbaren Lichtes und in der Größenordnung atomarer Abstände in Kristallen liegt (ca. 100 pm). Sie bilden die Grundlage für eine Reihe verschiedener Untersuchungsverfahren, die man in vier große Gruppen einteilen kann: 1. Röntgendurchleuchtungstechnik und Grobstrukturanalyse 2. Röntgenbeugungsverfahren bzw. Feinstrukturanalyse 3. Röntgen-Emissionsanalyse (Fluoreszenzanalyse) 4. Sonderverfahren Das vorliegende Buch beschäftigt sich vorwiegend mit der zweiten Gruppe von Untersuchungsverfahren, mit Beugungsphänomenen. Röntgenstrahlen werden nämlich an den periodisch angeordneten atomaren Bausteinen kristallinen Materials gebeugt, wobei charakteristische Beugungsbilder entstehen können. Es ist hierbei keineswegs notwendig, daß immer gut ausgebildete Einkristalle vorliegen. Sehr viele Untersuchungsverfahren werden an feinen Kristallpulvern durchgeführt, die man von den meisten Materialien leicht erhält. Da die Beugungsbilder für jede Substanz charakteristisch sind, können sie ähnlich wie Fingerabdrücke, zur Identifizierung mikrokristalliner Materialien herangezogen werden. Die Analyse von Pulveraufnahmen ermöglicht ferner die Bestimmung des Kristallsystems sowie der Gitterkonstanten. In günstigen Fallen kann man allein aus Pulveraufnahmen Angaben über die Anordnung der Atome im Kristall machen, also eine Kristallstrukturanalyse durchführen. Darüber hinaus erhält man aus Pulveraufnahmen Aussagen über den Kristallisationsgrad, über Gitterfehler sowie über Primärteilchengrößen. Auch quantitative Phasenanalysen und Texturbestimmungen sind möglich. Dieser vielfältige Anwendungsbereich von Röntgenpulveraufnahmen hat dazu geführt, daß sich heute nicht nur Kristallographen und Mineralogen mit diesem Gebiet beschäftigen, sondern vor allem Chemiker, Metallurgen und ganz allgemein Naturwissenschaftler bedienen sich dieser Verfahren
    Language: German
    Keywords: Röntgenfeinstrukturanalyse ; Rietveld-Methode ; Röntgenstrukturanalyse ; Einführung
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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