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Microscopy of semiconducting materials 1997 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 7 - 10 April 1997 (1997)

Cullis, Anthony G. ; Hutchison, J. L. ; Royal Microscopical Society ; [weitere]

Bristol [u.a.] : Inst. of Physics Publ.

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Details

UID:

gbv_273161741

Umfang: XVI, 709 S , Ill., graph. Darst.

ISBN: 0750304642

Serie: Institute of Physics conference series 157

Anmerkung: Literaturangaben

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): Mikroskopie ; Oberflächenanalyse ; Epitaxie ; Halbleiteroberfläche ; Konferenzschrift

URL: http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0745/97042765-d.html

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Microscopy of semiconducting materials 1997 : proceedings of the Royal Microscopial Society Conference held at Oxford University, 7 - 10 April 1997 (1997)

Cullis, Anthony G. ; Royal Microscopical Society 〈Großbritannien〉

Bristol [u.a.] : Inst. of Physics Publ.

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Details

UID:

b3kat_BV012265088

Umfang: XVI, 709 S. , Ill., graph. Darst.

ISBN: 0750304642

Serie: Institute of Physics 〈London〉: Institute of Physics conference series 157

Sprache: Englisch

Fachgebiete: Physik

RVK:

UP 3050

Schlagwort(e): Halbleiter ; Mikroskopie ; Konferenzschrift

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