Umfang:
X, 115 S
,
graph. Darst
,
21 cm
Ausgabe:
Als Ms. gedr.
ISBN:
3183308207
Serie:
Fortschritt-Berichte VDI 308
Anmerkung:
Literaturverz. S. 109 - 115
,
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss.
Sprache:
Deutsch
Fachgebiete:
Technik
Schlagwort(e):
Entwurfsautomation
;
VLSI
;
Nanometerbereich
;
Verifikation
;
Automatische Parallelisierung
;
Verteiltes System
;
Hochschulschrift
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