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Buch

Stern, Olaf [Verfasser]

Düsseldorf : VDI-Verl.

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Details

UID:

b3kat_BV011116095

Umfang: XIV, 160 S. , Ill., graph. Darst.

Ausgabe: Als Ms. gedr.

ISBN: 3183240092

Serie: Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] 240

Anmerkung: Kurzfassung in dt. u. engl. Sprache. - Zugl.: Siegen, Univ.-Gesamthochsch.,Diss., 1996

Sprache: Englisch

Fachgebiete: Technik

RVK:

ZN 4030

Schlagwort(e): VLSI ; Testen ; Fehlermodell ; LSI ; Testbarkeit ; Fehlermodell ; Hochschulschrift ; Hochschulschrift

URL: Inhaltsverzeichnis

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