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Dedicated near field optical microscopies for semiconductor materials and devices (1999)

Cramer, Ronald M. [Verfasser]

Düsseldorf : VDI-Verl.

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Details

UID:

b3kat_BV012808175

Umfang: XI, 120 S. , Ill., graph. Darst.

Ausgabe: Als Ms. gedr.

ISBN: 3183304090

Serie: Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] 304

Anmerkung: Zugl.: Wuppertal, Univ., Diss.

Sprache: Englisch

Fachgebiete: Physik

RVK:

UH 6700

Schlagwort(e): Optische Nahfeldmikroskopie ; Halbleiterbauelement ; Optische Nahfeldmikroskopie ; Halbleiterbauelement ; Nanostruktur ; Diamant ; Dünne Schicht ; Kathodolumineszenz ; Hochschulschrift ; Hochschulschrift

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