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    Buch
    Buch
    Weinheim :Wiley-VCH,
    UID:
    almahu_BV040506276
    Umfang: XII, 211 S. : , Ill., graph. Darst.
    ISBN: 3-527-41167-4 , 978-3-527-41167-2 , 978-3-527-66434-4
    Weitere Ausg.: Erscheint auch als Online-Ausgabe, EPUB ISBN 978-3-527-66435-1
    Weitere Ausg.: Erscheint auch als Online-Ausgabe, MOBI ISBN 978-3-527-66436-8
    Weitere Ausg.: Erscheint auch als Online-Ausgabe, PDF ISBN 978-3-527-66437-5
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Technik , Physik
    RVK:
    RVK:
    Schlagwort(e): Dünne Schicht ; Schichtdicke ; Optische Messtechnik
    Mehr zum Autor: Quinten, Michael.
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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  • 2
    Online-Ressource
    Online-Ressource
    Weinheim :Wiley-VCH ;
    UID:
    almahu_9948197990402882
    Umfang: 1 online resource : , illustrations
    ISBN: 9783527664344 , 3527664343 , 9783527664351 , 3527664351 , 9781299475991 , 129947599X , 9783527664375 , 3527664378 , 352766436X , 9783527664368
    Inhalt: A one-stop, concise guide on determining and measuring thin film thickness by optical methods. This practical book covers the laws of electromagnetic radiation and interaction of light with matter, as well as the theory and practice of thickness measurement, and modern applications. In so doing, it shows the capabilities and opportunities of optical thickness determination and discusses the strengths and weaknesses of measurement devices along with their evaluation methods. Following an introduction to the topic, Chapter 2 presents the basics of the propagation of light and other electromag.
    Anmerkung: Cover; Related Titles; Title Page; Copyright; Dedication; Preface; Chapter 1: Introduction; Chapter 2: Propagation of Light and Other Electromagnetic Waves; 2.1 Properties of Electromagnetic Waves; 2.2 Huygens-Fresnel Principle; 2.3 Interference of Electromagnetic Waves; 2.4 Reflection and Refraction; 2.5 Diffraction; 2.6 Scattering; 2.7 Dielectric Function and Refractive Index; Chapter 3: Spectral Reflectance and Transmittance of a Layer Stack; 3.1 Reflectance and Transmittance of a Single Layer; 3.2 Propagating Wave Model for a Layer Stack; Chapter 4: The Optical Measurement. , 7.7 Measurement of Critical DimensionsNumerics with Complex Numbers; A.1 Addition; A.2 Multiplication; A.3 Modulus; A.4 Division; A.5 Power n; A.6 Logarithm; A.7 Exponentiation; A.8 Trigonometric Functions; Fourier Transform; B.1 Linearity; B.2 Scaling; B.3 Shifting; B.4 Damping; B.5 Convolution; B.6 Plancherel Theorem and Parseval's Theorem; Levenberg-Marquardt Algorithm; Downhill Simplex Algorithm; References; Index.
    Weitere Ausg.: Print version: Quinten, Michael. Practical guide to optical metrology for thin films. Weinheim : Wiley-VCH ; Chichester : John Wiley [distributor], 2012 ISBN 9783527411672
    Sprache: Englisch
    Schlagwort(e): Electronic books. ; Electronic books. ; Electronic books.
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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