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2013 IEEE Conference on Reliability Science for Advanced Materials and Devices (RSAMD) : 24 - 25 Feb. 2013, Golden, CO, USA (2013)

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Piscataway, NJ : IEEE

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Details

UID:

gbv_820502499

Umfang: Online-Ressource , Ill., graph. Darst.

ISBN: 1467320188 , 9781467320184

Anmerkung: Literaturangaben

Weitere Ausg.: ISBN 9781467320184

Weitere Ausg.: Druckausg. 2013 IEEE Conference on Reliability Science for Advanced Materials and Devices (RSAMD 2013) Piscataway, NJ : IEEE, 2013 ISBN 9781467320184

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): Konferenzschrift

URL: Volltext (lizenzpflichtig)

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