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  • 1
    Online-Ressource
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    New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC
    UID:
    b3kat_BV036650362
    Umfang: 1 Online-Ressource , v.: digital
    Ausgabe: Online_Ausgabe New York, NY Springer Science+Business Media, LLC 2007 Springer ebook collection / Chemistry and Materials Science 2005-2008 Sonstige Standardnummer des Gesamttitels: 041171-1
    ISBN: 9780387333250 , 9780387396200
    Weitere Ausg.: Reproduktion von Scanning Microscopy for Nanotechnology 2007
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Physik
    RVK:
    Schlagwort(e): Rasterelektronenmikroskopie ; Nanotechnologie
    URL: Cover
    URL: Volltext  (lizenzpflichtig)
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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  • 2
    Online-Ressource
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    New York ; : Springer,
    UID:
    almafu_9958083798202883
    Umfang: 1 online resource (532 p.)
    Ausgabe: 1st ed. 2007.
    ISBN: 1-4419-2209-1 , 1-280-80462-9 , 9786610804627 , 1-61583-385-4
    Inhalt: Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation. Scanning Microscopy for Nanotechnology addresses the rapid development of these techniques for nanotechnology, in both technique and application chapters by leading practitioners. The book covers topics including nanomaterials imaging, X-ray microanalysis, high-resolution SEM, low kV SEM, cryo-SEM, as well as new techniques such as electron back scatter diffraction (EBSD) and scanning transmission electron microscopy (STEM). Fabrication techniques integrated with SEM, such as e-beam nanolithography, nanomanipulation, and focused ion beam nanofabrication, are major new dimensions for SEM application. Application areas include the study of nanoparticles, nanowires and nanotubes, three-dimensional nanostructures, quantum dots, magnetic nanomaterials, photonic structures, and bio-inspired nanomaterials. This book will appeal not only to a broad spectrum of nanomaterials researchers, but also to SEM development specialists.
    Anmerkung: Description based upon print version of record. , Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM) -- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization -- X-ray Microanalysis in Nanomaterials -- Low kV Scanning Electron Microscopy -- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope -- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization -- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering -- Applications of FIB and DualBeam for Nanofabrication -- Nanowires and Carbon Nanotubes -- Photonic Crystals and Devices -- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly -- Nano-building Blocks Fabricated through Templates -- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures -- Bio-inspired Nanomaterials -- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research. , English
    Weitere Ausg.: ISBN 0-387-33325-8
    Weitere Ausg.: ISBN 0-387-39620-9
    Sprache: Englisch
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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