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    New York, NY :Springer New York,
    Dazugehörige Titel
    UID:
    almahu_9947363085702882
    Umfang: 616 p. , online resource.
    ISBN: 9781468493542
    Serie: Applied Mathematical Sciences, 24
    Inhalt: Many persons have helped the author with comments and corrections, and I would like to mention D. E. McClure, I. Frolow, J. Silverstein, D. Town, and especially W. Freiberger for his helpful suggestions and encouragement. The work in Chapters 6 and 7 has been influenced and stimulated by discussions with other members of the Center for Neural Sciences, especially with L. Cooper and H. Kucera. I would like to thank F. John, J. P. LaSalle, L. Sirovich, and G. Whitham for accepting the manuscript for the series Applied Mathematical Sciences published by Springer-Verlag. This research project has been supported by the Division of Mathematical and Computer Sciences of the National Science Foundation and (the work on language abduction, pattern processors, and patterns in program behavior) by the Information Systems Program of the Office of Naval Research. I greatly appreciate the understanding and positive interest shown by John Pasta, Kent Curtiss, Bruce Barnes, Sally Sedelov vi PREFACE and Bob Agins of the Foundation, and by Marvin Denicoff of the Office of Naval Research. I am indebted to Mrs. E. Fonseca for her untiring and careful preparation of the manuscript, to Miss E. Addison for her skillful help with the many diagrams, and to S.V. Spinacci for the final typing. I gratefully acknowledge permission to reproduce figures, as mentioned in the text, from Cambridge University Press and from Hayden Book Company. Also, to Professor J. Carbury for permission to use his illustration on page 704.
    Anmerkung: 1. Ends and Means in Pattern Analysis -- 1. The Aims of Pattern Analysis -- 2. Properties of Image Operators -- 3. Performance Criteria for Image Operators -- 4. Choosing Image Operators -- 5. Pattern Analysis Algorithms -- 2. Analysis of Abstract Patterns -- 1. Paradigmatic Deformations -- 2. Syntactic Deformations -- 3. Measuring Syntactic Style -- 4. Relation Image Algebras and Their Transduction -- 5. Abstract Networks and Their Symmetries -- 3. Analysis of Certain Temporal Patterns -- 1. Images on the Time Axis -- 2. Some Numerical Sequence Patterns -- 3. Segmentation Theory for Time Patterns -- 4. Image Analysis for Other Regime Patterns -- 5. Neural Firing Patterns -- 4. Point Patterns -- 1. Lattice Point Patterns -- 2. X-ray Analysis of Crystal Patterns -- 3. Distinguished Points -- 5. Set Patterns and Statistical Geometry -- 1. Single Generators -- 2. Convex Sets — Order One Feature Logic -- 3. Order Two Feature Logic -- 4. Infinite Order Feature Logic -- 5. A Result on Image Approximation -- 6. Probing Boundaries -- 7. Some Stereology -- 8. Biological Shape -- 6. Network Pattern Processors -- 1. The Image Algebra of a Microworld -- 2. The Observables -- 3. The Initial Network -- 4. The Functioning Network -- 5. The Learning Network -- 6. Inference of the Image Algebra -- 7. The Malfunctioning Network -- 7. Pattern Processors for Language Abduction -- 1. Abduction of Regular Structures -- 2. Abduction of Some Language Patterns -- 3. Word Class Partitioning -- 4. Network Partitioning into Word Class -- 5. Discovering Syntactic Variables -- Notes.
    In: Springer eBooks
    Weitere Ausg.: Printed edition: ISBN 9780387903101
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    Umfang: VIII, 605 S.
    ISBN: 0387903100 , 3540903100
    Serie: Applied mathematical sciences 24
    In: 2
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Informatik
    RVK:
    Schlagwort(e): Analysis ; Anwendung
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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    New York [u.a.] : Springer
    UID:
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    Umfang: VIII, 605 S. , graph. Darst.
    ISBN: 0387903100 , 3540903100
    Serie: Lectures in pattern theory / U. Grenander Vol. 2
    Anmerkung: Literaturverz. S. [580] - 591
    Sprache: Englisch
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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    almafu_BV004029372
    Umfang: VIII, 605 S.
    ISBN: 0-387-90310-0 , 3-540-90310-0
    Serie: Applied mathematical sciences 24
    In: Lectures in pattern theory.
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Informatik
    RVK:
    Schlagwort(e): Analysis ; Anwendung
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    almahu_BV004029372
    Umfang: VIII, 605 S.
    ISBN: 0-387-90310-0 , 3-540-90310-0
    Serie: Applied mathematical sciences 24
    Sprache: Englisch
    Fachgebiete: Informatik
    RVK:
    Schlagwort(e): Analysis ; Anwendung
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    Sprache: Englisch
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