KOBV-Portal

Treffer pro Seite

Treffer 1 - 1 | 1 Treffer

Sortierung

Online-Ressource

14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2007 : IPFA 2007 ; 11 - 13 July 2007, Bangalore, India (2007)

Mahapatra, Souvik ; Radhakrishnan, M. K. ; Institute of Electrical and Electronics Engineers Bangalore Section ; [weitere]

Piscataway, NJ : IEEE

zur Merkliste hinzufügen auf der Merkliste

Details

UID:

gbv_611312638

Umfang: Online-Ressource (309 S.)

ISBN: 1424410142 , 9781424410149

Anmerkung: IEEE catalog number: 07TH8945 , Parallel als Druckausg. erschienen

Weitere Ausg.: ISBN 1424410150

Weitere Ausg.: Erscheint auch als Druck-Ausgabe International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (14th : 2007 : Indian Institute of Science) Proceedings of the 14th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits Piscataway, NJ : IEEE, ©2007

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): Konferenzschrift

URL: Volltext

Bookmarklink