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73rd ARFTG Microwave Measurement Conference, 2009 : 12 June 2009, Boston Convention and Exhibition Center, Boston, MA ; [part of Microwave Week 2009] (2009)

Automatic RF Techniques Group

Piscataway, NJ : IEEE

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Details

UID:

gbv_726179957

Umfang: Online-Ressource

ISBN: 9781424434428 , 1424434424 , 1424434432 , 9781424434428 , 9781424434435

Anmerkung: Held in conjunction with the 2009 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2009) and the 2009 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC 2009) , Kongr.-Thema: Practical applications of nonlinear measurements , Parallel als Druckausg. erschienen

Weitere Ausg.: ISBN 9781424434435

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): Halbleiterbauelement ; Wafer ; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung ; Konferenzschrift

URL: Volltext (lizenzpflichtig)

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