Umfang:
1 Online-Ressource (IX, 326S. 165 Abb)
Ausgabe:
4., durchgesehene und ergänzte Auflage
ISBN:
9783322940728
,
9783519301493
Serie:
Teubner Studienskripten Soziologie
Anmerkung:
Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 100 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Buch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik. Zur weiteren Verdeutlichung des Stoffes wurden in der 4. Auflage Abbildungen und vor allem weitere Übungsaufgaben ergänzt. "Ulrich Hilleringmann ist mit seinem (...) Buch genau dies gelungen: die komplexe und umfangreiche Materie präzise und doch stets verständlich darzustellen." Elektronik, 11/2003
Sprache:
Deutsch
Fachgebiete:
Technik
,
Physik
Schlagwort(e):
Silicium
;
Halbleitertechnologie
;
Siliciumhalbleiter
DOI:
10.1007/978-3-322-94072-8
URL:
Volltext
(lizenzpflichtig)
Mehr zum Autor:
Hilleringmann, Ulrich
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