Kooperativer Bibliotheksverbund

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Umfang: 68 Abb., 3 Abb. in Farbe. , online resource.

Ausgabe: 1st ed. 1961.

ISBN: 9783662002421

Anmerkung: 1 Die elastizitätstheoretischen und optischen Grundlagen -- 1.1 Verschiebungen und Verzerrungen am festen Körper -- 1.2 Spannungen am festen Körper -- 1.3 Zusammenhang zwischen Verzerrungen und Spannungen -- 1.4 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in der Ebene -- 1.41 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in rechtwinkligen Koordinaten -- 1.42 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes entlang von Spannungstrajektorien -- 15 Licht als Querwelle. Reflexion und Brechung -- 1.6 Gewö hnliches und polarisiertes Licht -- 1.7 Die Erzeugung von polarisiertem Licht -- 1.8 Linear, zirkular und elliptisch polarisiertes Licht -- 1.9 Grundsätzlicher Aufbau und Wirkungsweise von gekreuzten Polarisatoren -- 1.10 Optisch aktive Stoffe, elektrische Doppelbrechung und Spannungsdoppelbrechung -- 1.101 Optisch aktive Stoffe -- 1.102 Elektrische Doppelbrechung -- 1.103 Spannungsdoppelbrechung -- 2 Die spannungsoptische Grundausrüstung -- 2.1 Zusammenstellung verschiedener Polariskope -- 2.2 Die einfache spannungsoptische Anparatur -- 2.3 Zur physikalischen, photographischen und mechanischen Grundausrüstung eines spannungsoptischen Laboratoriums -- 2.31 Die eigentlichen Meßgeräte -- 2.32 Hilfsmittel zur Durchführung der Versuche -- 2.33 Photographische Aufnahmen (Dunkelkammer) -- 2.34 Versuchsvorbereitung und Modellherstellung (Werkstatt) -- 3 Das spannungsoptische Grundgesetz in zwei Dimensionen -- 3.1 Wirkung einer doppelbrechenden Platte zwischen gekreuzten Polarisatoren -- 3.11 Doppelbrechende Platte in linear polarisiertem Licht -- 3.12 Doppelbrechende Platte in zirkular polarisiertem Licht -- 3.2 Zeitliche Doppelbrechung -- 3.3 Isochromaten (Farbgleich en) und Isoklinen (Richtungsgleichen) -- 3.4 Die spannungsoptische Konstante und ihre experimentelle Bestimmung -- 3.41 Eichung im Biegeversuch -- 3.42 Eichung im Zugversuch -- 3.43 Eichung im Druckversuch -- 3.5 Zur Modelldicke -- 3.6 Einfarbiges und weißes Licht -- 4 Isochromaten -- 4.1 Allgemeine Betrachtungen -- 4.2 Isochromaten als Linien gleicher Hauptspannungsdifferenz und allgemeine Bestimmung der Isochromatenordnung -- 4.3 Isochromaten an lastfreien Rändern -- 4.4 Singuläre und isotrope Punkte -- 4.5 Einige einfache ebene Spannungszustände -- 4.51 Reiner Zug in Stäben -- 4.52 Reiner Druck in Stäben -- 4.53 Reine Biegung -- 4.54 Biegung mit Querkraft -- 4.55 Einzelkraft auf einseitig begrenzter Halbebene -- 4.56 Flächenhafter Kraftangriff auf Halbebene -- 4.57 Platte unter symmetrischer Druckbeanspruchung parallel zur Plattenebene -- 4.58 Gelochter Zugstab -- 4.59 Der zweiseitig gekerbte Zugstab -- 4.510 Der zwei- und einseitig gekerbte Biegestab -- 4.511 Abgesetzter Stab unter Biegebeanspruchung -- 4.512 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt -- 4.513 Haken -- 4.514 Schaufelfüße -- 4.515 Paßstück in Nut -- 4.516 Momentennullpunkte -- 4.6 Bestimmung der Isochromatenordnung -- 4.61 Allgemeines -- 4.62 Bestimmung der Isochromatenordnung durch einfaches Abzählen (monochromatisches Licht) -- 4.63 Bestimmung der Isochromatenordnung aus der Farbe bei V erwendung von weißem Licht -- 4.64 Kompensation mittels Viertelwellenplatten und Polarisator — Analvsator -- 4.641 Allgemeines -- 4.642 Kompensation nach Sénarmont -- 4.642 Kompennsation naeh Tardy -- 4.65 Zug-, Kompression- und Biegekompensatoren -- 4.66 Kompensatoren nach Emuwonavs und Berem -- 4.67 Kompensator nach Brace-Köhler -- 4.68 Kompensatoren nach Babinet und Babinet-Soleil -- 4.69 Kompensation mit Interferometer-Einrichtung -- 4.7 Die Nagelprobe zur Bestimmung der Richtung von Grenzspannungen -- 4.8 Zur Verschärfnng und VervielfaChung von ISOchrOmatenn -- 4.81 Isochromatenverschärfung -- 4.82 Isochromatenvervielfachung -- 5 Isoklinen und Hauptspannungslinien -- 5.1 Isoklinen als Linien gleicher Hauptspannungsrichtungen -- 5.2 Die spannungsoptische Bestimmung der Isoklinen -- 5.3 Gren z bedingungen an lastfreien Rändern -- 5.4 Isoklinen bei symmetrischer Form und Belastung -- 5.5 Isoklinen an schubfreien Punkten -- 5.6 Konstruktion der Hauptspannungslinien aus den Isoklinen -- 5.7 Allgemeine Bemerkungen über Hauptspannungslinien -- 5.8 Einige einfache Beispiele von Isoklinen und Hauptsnannungslinien -- 5.81 Die durch Einzellast senkrecht belastete Halbebene -- 5.82 Die durch rechteckigen Belastungsstreifen senkrecht beanspruchte Halbebene -- 5.83 Platte mit zwei symmetrischen Kräften in der Plattenebene -- 5.84 Platte mit vier symmetrischen gleich großen Kräften in der Plattenebene -- 5.85 Der zweiseitig gekerbte Biegestab -- 5.86 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt -- 5.87 Isoklinen und Hauptspannungslinien beim einfachen Hammerkopffuß -- 6 Die wichtigsten Verfahren zur Bestimmung ebener Spannungszustände -- 6.1 Allgemeines zur Ermittlungen der einzelnen Haupts pannungen -- 6.2 Auswertungsverfahren nach Cokerund Filon -- 6.3 Das Schubspannungsdifferenzverfahren -- 6.31 Zur Ermittlung der Schubspannungen -- 6.32 Ermittlung der Normalspannungen ?xund ?y längs eines geraden Schnittes -- 6.321 Normalspannung ?x -- 6.322 Normalspannung ?y -- 6.33 Rechenschema -- 6.34 Eine Methode zur genauen Bestimmung von % MathType!MTEF!2!1!+- % feaaguart1ev2aaatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbuLwBLn % hiov2DGi1BTfMBaeXatLxBI9gBaerbd9wDYLwzYbItLDharqqtubsr % 4rNCHbGeaGqiVu0Je9sqqrpepC0xbbL8F4rqqrFfpeea0xe9Lq-Jc9 % vqaqpepm0xbba9pwe9Q8fs0-yqaqpepae9pg0FirpepeKkFr0xfr-x % fr-xb9adbaqaaeGaciGaaiaabeqaamaabaabaaGcbaWaaSaaaeaacq % GHciITcqaHepaDaeaacqGHciITcaWG5baaaaaa!3B91! $$ \frac{{\partial \tau }}{{\partial y}} $$ -- 6.4 Auswertungsverfahren für symmetrische Probleme nach M. M. Frocht -- 6.41 Die grundlegenden Voraussetzungen und Zusammenhänge bei symmetrischen Problemen -- 6.42 Angenäherte Konstruktion der p, q-Kurven über einem Symmetriequerschnitt -- 6.5 Das Neubersche Verfahren -- 6.51 Einleitung -- 6.52 Bezeichnungen -- 6.53 Die Ausgangsgleichungen -- 6.54 Vereinfachungen durch allgemeine Beziehungen -- 6.55 Die Neuberschen Gleichungen -- 6.56 Graphische Bestimmung der Isopachenkurven aus den Neuberschen Gleichungen -- 6.561 Bestimmung der Isopachenrichtung im Innern eines Modells -- 6.562 Bestimmung der Isopachen am Rand -- 6.563 Abstand der Isopachen -- 6.57 Allgemeine Eigenschaften der Isopachen -- 6.58 Isopachen am Rand -- 6.59 Isopachen an singulären Punkten und Asymptoten -- 6.6 Verfahren, die auf der unmittelbaren Messung von (?1 + ?2) bzw. der einzelnen Hauptspannungen ?1und ?2beruhen -- 6.61 Grundsätzliches über die Theorie und Anwendung der Lateralextensometer -- 6.62 Mechanische Lateralextensometer -- 6.63 Elektrische Lateralextensometer -- 6.631 Dickenmessung mit Hilfe von Dehnungsmeßstreifen -- 6.632 Dickenmessung mit Hilfe von induktiven Gebern -- 6.64 Interferenzoptische Verfahren -- 6.641 Optische Lateralextensometer -- 6.642 Allgemeines zur experimetellen Bestimmung der Isopachen -- 6.643 Verschiedene Verfahren der Isopachenbestimmung im durchgehenden Licht -- 6.644 Überblick über die Isopachenbestimmung durch Reflexion -- 6.645 Das Verfahren von A. Doseund R. Landwehr -- 6.645.1 Die Voraussetzungen und Grundlagen des Verfahrens -- 6.645.2 Versuchsaufbau -- 6.645.3 Modellmaterial -- 6.645.4 Modellherstellung und Modellbelastung -- 6.645.5 Zur punktweisen experimentellen Bestimmung der Isopachen -- 6.645.6 Bestimmung der Isopachen über dem ganzen Feld -- 6.646 Zur direkten Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen af interferenzoptischem Wege nach D. Post -- 6.646.1 Überblick -- 6.646.2 Die theoretischen Grundlagen des Verfahrens -- 6.646.3 Zur Versuchstechnik -- 6.65 Photometrisches DickenmeBverfahren zur Ermittlung der Hauptspannungssumme bei ebenen Modellen -- 6.66 Membran-Analogie 20 -- 6.67 Elektrische Analogieverfahren -- 6.68 Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen durch das Anbohroder Lochverfahren bzw. , das Einschlußverfahren -- 6.69 Das Moiré-Verfahren -- 6.7 Numerische Methoden zur Lösung der Laplaceschen Gleichung und damit Bestimmung von (?1 + ?2) -- 6.71 Allgemeine Betrachtungen zur numerischen Lösung der Laplaceschen Gleichung -- 6.72 Die grundlegenden Zusammenhänge -- 6.73 Die Methode der Iteration -- 6.731 Rechtwinkelige Begrenzungen -- 6.732 Unregelmäßige, nichtrechtwinkelige Begrenzungen -- 6.74 Weitere Methoden -- 6.741 Die Differenzenmethode -- 6.742 Die Relaxationsmethode -- 6.8 Einige Bemerkungen zu anderen Verfahren -- 7 Übertragung der Modellversuche -- 7.1 Allgemeine Bemerkungen zur Übertragung der Versuchsergebnisse vom Modell auf das Original -- 7.2 Die strengen statischen Ähnlichkeitsgesetze -- 7.21 Ableitung mit Hilfe der Dimensionsanalyse -- 7.22 Ableitung aus den elastizitätstheoretischen Grundgleichungen -- 7.23 Zusammenfassung der strengen statischen Ähnlichkeitsgesetze -- 7.3 Angenäherte Ähnlichkeit, insbesondere bei ebenen spannungsoptischen Untersuchungen -- 7.4 Zur Ermittlung der Modellgesetze bei beliebigen Problemen -- 7.5 Fehler bei spannungsoptischen Untersuchungen -- 7.6 Das „De Saint Venantsche Prinzip“ -- 8 Modellmaterial -- 8.1 Allgemeine Anforderungen an ein spannungsoptisches Material -- 8.2 Charakteristische Größen zur Kennzeichnung spannungsoptischer Modellmaterialien -- 8.21 Elastizitätsmodul -- 8.22 Grenzspannung ?zul -- 8.23 Die spannungsoptische Konstante S -- 8.24 Die dehnungsop tische Konstante D -- 8.25 Die interferenzoptische Konstante I -- 8.26 Maximale Isochromatenordnung pro Modelldicke -- 8.27 Relative optische Kriechempfindlichkeit -- 8.28 Proportionalitätsabweichung des spannungsoptischen Effektes -- 8.29 Empfindlichkeit geg en Randeffekt -- 8.210 Temperatur für den Einfrierversuch -- 8.211 Elatizitätsmodul Eef bei der Einfriertemperatur -- 8.212 Zulässige Spannung ?zul bei der Einfriertemperatur -- 8.213 Temperatur, bei welcher der eingefrorene Spannungszustand wieder vollständig verschwindet -- 8.214 Zugfestigkeit -- 8.215 Druckfestigkeit -- 8.216 Biegefestigkeit -- 8.217 Zeitdehngrenzen und Zeitstandfestigkeit --.

In: Springer eBooks

Weitere Ausg.: Printed edition: ISBN 9783662002438

Weitere Ausg.: Printed edition: ISBN 9783540027751

Sprache: Deutsch

DOI: 10.1007/978-3-662-00242-1

URL: https://doi.org/10.1007/978-3-662-00242-1

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Umfang: 1 Online-Ressource

ISBN: 9783662002421 , 9783662002438

Anmerkung: Es gibt zwei Methoden der Spannungsanalyse: Die Berechnung mit den Hilfsmitteln der Elastizitätstheorie und die experimentelle Spannungsbestimmung. Erstere liefert nur bei einfachen Formen und Belastungsarten exakte Lösungen. Die meisten praktischen Probleme dagegen führen bei ihrer theoretischen Behandlung auf Differentialgleichungen (mit entsprechenden Randbedingungen), die nur angenähert gelöst werden können. In solchen Fällen und besonders auch dann, wenn ein theoretischer Ansatz keinen Erfolg verspricht, erweisen sich experimentelle Untersuchungen als sehr zweckmäßig und nützlich. Hier wird nun, neben anderen Verfahren, in immer größerem Umfange die Spannungsoptik eingesetzt. Sie ermöglicht unter Verwendung von durchsichtigen Modellen und polarisiertem Licht sowohl bei ebenen als auch bei räumlichen Problemen eine ausreichend genaue qualitative und quantitative Spannungsanalyse. Das spannungsoptische oder dehnungsoptische Verfahren beruht darauf, daß gewisse isotrope und durchsichtige Stoffe, die dann als Modellmaterial Verwendung finden, bei Beanspruchung doppelbrechend werden. Diese künstliche Doppelbrechung ist unmittelbar ein Maß für die Art und Größe der Spannungen im Modell. Mit Hilfe bestimmter Modellgesetze und unter gewissen Voraussetzungen ist dann, wenn die Modellspannungen ermittelt sind, eine Übertragung auf das kleinere, gleich große oder größere Original möglich. Spannungsoptische Verfahren sind deshalb, neben ihrer Anwendung in der reinen Forschung, ein Hilfsmittel für Konstrukteure und Berechnungsabteilungen. Sie sollten überall dort eingesetzt werden, wo hochbeanspruchte Bauteile bezüglich der Festigkeit formgerecht zu dimensionieren sind. So kann man z. B. den Entwurf eines Bauteiles zunächst im Versuch kontrollieren und die eventuell schwachen Stellen der Konstruktion unmittelbar sichtbar machen. Dies gilt besonders für die Spannungskonzentrationen bzw

Sprache: Deutsch

Schlagwort(e): Spannungsoptik

DOI: 10.1007/978-3-662-00242-1

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