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Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen (2023)

Negara, Christian Emanuel [VerfasserIn]

[Erscheinungsort nicht ermittelbar] : KIT Scientific Publishing

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UID:

gbv_1869178335

Umfang: 1 Online-Ressource (324 p.)

ISBN: 9783731513025

Serie: Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung

Inhalt: Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and related questions regarding the measurement function, evaluation algorithms and ambiguities as well as degrees of freedom of the solution set are examined in this work

Anmerkung: German

Sprache: Unbestimmte Sprache

URL: kostenfrei

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Negara, Christian Emanuel [Verfasser]

Karlsruhe : KIT Scientific Publishing

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UID:

b3kat_BV049295475

Umfang: 1 Online-Ressource (xxii, 289 Seiten) , Illustrationen, Diagramme

Serie: Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung Band 21

Anmerkung: Dissertation Karlsruher Institut für Technologie (KIT) 2023

Weitere Ausg.: Erscheint auch als Druck-Ausgabe ISBN 978-3-7315-1302-5

Sprache: Deutsch

Schlagwort(e): Hochschulschrift

DOI: 10.5445/KSP/1000158762

URL: Volltext (kostenfrei)

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Weitere Ausg.: ISBN 3-7315-1302-1

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