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Zuverlässigkeit und Entwurf : 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 20120 in Bremen (2012)

Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik ; Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2012 Bremen

Berlin [u.a.] : VDE-Verl.

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Details

UID:

b3kat_BV040482764

Umfang: 1 CD-ROM , Beil. ( S.) , 12 cm

ISBN: 9783800734450

Serie: GMM-Fachbericht 73

Anmerkung: Beitr. teilw. dt., teilw. engl. Im Buchhandel jährlich abwechselnd als CD oder Printausg. erhältlich

Sprache: Deutsch

Fachgebiete: Technik

RVK:

ZN 4040

Schlagwort(e): Sicherheitskritisches System ; Eingebettetes System ; Mikroelektronik ; Entwurfsautomation ; Zuverlässigkeit ; Robustheit ; Fehlertoleranz ; Testen ; Konferenzschrift ; CD-ROM

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Zuverlässigkeit und Entwurf : 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 2012 in Bremen ; [CD-ROM] (2012)

Berlin : VDE VERLAG

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Details

UID:

kobvindex_ZLB15530019

Umfang: 1 CD-ROM , 1 Beil.

ISBN: 9783800734450

Serie: GMM-Fachbericht : [CD-ROM] 73

Sprache: Deutsch

Schlagwort(e): Mikroelektronik ; Kongress ; Bremen 〈2012〉 ; CD-ROM ; Kongress ; CD-ROM ; Konferenzschrift

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