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    AIP Publishing ; 2007
    In:  Journal of Applied Physics Vol. 102, No. 1 ( 2007-07-01)
    In: Journal of Applied Physics, AIP Publishing, Vol. 102, No. 1 ( 2007-07-01)
    Kurzfassung: We present a study on hot electron transport through Au∕molecule∕n-GaAs(001) diodes via ballistic electron emission microcopy (BEEM). The molecules in the structure form a monolayer of either octanedithiol [HS–(CH2)8–SH] or hexadecanethiol [HS–(CH2)15–CH3] . For the dithiol case, the presence of the molecular interlayer leads to undetectable BEEM transmission. Whereas a small photoinduced collector current is detected at random locations at a forward (reverse) scanning tunneling microscopy (STM) tip voltage of −1.43±0.01V (+1.50±0.02V). In comparison, with monothiol diodes, or diodes where the molecules are sandwiched between two Au films (Au∕molecule∕Au∕GaAs), the BEEM transmission remains a significant fraction of the reference diode signal (30%–80%) with a slight increase in the ballistic transport threshold voltage (−1.0to−1.1V) from that of the reference Au∕GaAs diodes (−0.89V). Auger depth profiling and cross-sectional transmission electron microscopy show that Au-molecule intermixing occurs in Au/hexadecanethiol/GaAs but not in Au/octanedithiol/GaAs diodes. The suppression of BEEM signal and the detection of STM-induced photocurrent in the Au/octanedithiol/GaAs case are consistent with an insulating monolayer containing pinholes or recombination centers with densities of 1 every 25×25nm2 or ∼2000μm−2.
    Materialart: Online-Ressource
    ISSN: 0021-8979 , 1089-7550
    Sprache: Englisch
    Verlag: AIP Publishing
    Publikationsdatum: 2007
    ZDB Id: 220641-9
    ZDB Id: 3112-4
    ZDB Id: 1476463-5
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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