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Accurate structure refinement of thin films using 3D electron diffraction data

Steciuk, Gwladys ; Palatinus, Lukas ; Boullay, Philippe ; [weitere]

International Union of Crystallography (IUCr) ; 2015

In: Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances Vol. 71, No. a1 ( 2015-08-23), p. s405-s405

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Details

In: Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances, International Union of Crystallography (IUCr), Vol. 71, No. a1 ( 2015-08-23), p. s405-s405

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 2053-2733

URL: Article

DOI: 10.1107/S2053273315093997

Sprache: Unbekannt

Verlag: International Union of Crystallography (IUCr)

Publikationsdatum: 2015

ZDB Id: 2020844-3

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