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Timbie, P.T. ; Bernstein, G.M. ; Richards, P.L.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 1989

In: IEEE Transactions on Nuclear Science Vol. 36, No. 1 ( 1989-2), p. 898-902

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Details

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 36, No. 1 ( 1989-2), p. 898-902

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9499 , 1558-1578

URL: Article

DOI: 10.1109/23.34573

RVK:

UA 1000

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 1989

ZDB Id: 218510-6

ZDB Id: 2025398-9

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