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Du, Sijun ; Jia, Yu ; Zhao, Chun ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2019

In: IEEE Journal of Solid-State Circuits Vol. 54, No. 6 ( 2019-6), p. 1733-1743

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Details

In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 54, No. 6 ( 2019-6), p. 1733-1743

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9200 , 1558-173X

URL: Journal

URL: Article

DOI: 10.1109/JSSC.4

DOI: 10.1109/JSSC.2019.2893525

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2019

ZDB Id: 240580-5

ZDB Id: 2040287-9

Bibliothek	Standort	Signatur	Band/Heft/Jahr	Verfügbarkeit

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