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Wang, Tz-Wun ; Kao, Yu-Yung ; Hung, Sheng-Hsi ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2022

In: IEEE Journal of Solid-State Circuits Vol. 57, No. 12 ( 2022-12), p. 3877-3888

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Details

In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 57, No. 12 ( 2022-12), p. 3877-3888

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9200 , 1558-173X

URL: Article

DOI: 10.1109/JSSC.2022.3200381

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2022

ZDB Id: 240580-5

ZDB Id: 2040287-9

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