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Tai, Ya-Hsiang ; Kuo, Yan-Fu ; Lee, Yun-Hsiang

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2008

In: IEEE Electron Device Letters Vol. 29, No. 12 ( 2008-12), p. 1322-1324

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Details

In: IEEE Electron Device Letters, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 29, No. 12 ( 2008-12), p. 1322-1324

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0741-3106

URL: Article

DOI: 10.1109/LED.2008.2006414

RVK:

ZG 1100

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2008

ZDB Id: 245158-X

ZDB Id: 2034325-5

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