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A 0.6 V Resistance-Locked Loop Embedded Digital Low Dropout Regulator in 40 nm CMOS With 80.5% Power Supply Rejection Improvement

Chiu, Chao-Chang ; Huang, Po-Hsien ; Lin, Moris ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2015

In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers Vol. 62, No. 1 ( 2015-1), p. 59-69

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Details

In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 62, No. 1 ( 2015-1), p. 59-69

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 1549-8328 , 1558-0806

URL: Article

DOI: 10.1109/TCSI.2014.2342380

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2015

ZDB Id: 2028230-8

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