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Breuil, L. ; Haspeslagh, L. ; Blomme, P. ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2005

In: IEEE Transactions on Electron Devices Vol. 52, No. 10 ( 2005-10), p. 2250-2257

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Details

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 52, No. 10 ( 2005-10), p. 2250-2257

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9383

URL: Article

DOI: 10.1109/TED.2005.856803

Sprache: Englisch

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2005

ZDB Id: 2028088-9

ZDB Id: 241634-7

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