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Lin, Jyi-Tsong ; Eng, Yi-Chuen ; Fan, Yi-Hsuan

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2012

In: IEEE Transactions on Electron Devices Vol. 59, No. 12 ( 2012-12), p. 3377-3381

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Details

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 59, No. 12 ( 2012-12), p. 3377-3381

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9383 , 1557-9646

URL: Article

DOI: 10.1109/TED.2012.2218249

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2012

ZDB Id: 2028088-9

ZDB Id: 241634-7

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