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Yuan, Xing ; Dou, Wei ; Wang, Yifan ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2022

In: IEEE Transactions on Electron Devices Vol. 69, No. 11 ( 2022-11), p. 6480-6484

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Details

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 69, No. 11 ( 2022-11), p. 6480-6484

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9383 , 1557-9646

URL: Article

DOI: 10.1109/TED.2022.3204514

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2022

ZDB Id: 2028088-9

ZDB Id: 241634-7

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