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Su, Yanbo ; Shi, Mingcheng ; Tang, Jianshi ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2024

In: IEEE Transactions on Electron Devices Vol. 71, No. 5 ( 2024-5), p. 3336-3342

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Details

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 71, No. 5 ( 2024-5), p. 3336-3342

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9383 , 1557-9646

URL: Article

DOI: 10.1109/TED.2024.3372937

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2024

ZDB Id: 2028088-9

ZDB Id: 241634-7

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