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Yang, Yiming ; Hu, Weipeng ; Lin, Haiqi ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2023

In: IEEE Transactions on Image Processing Vol. 32 ( 2023), p. 5231-5244

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Details

In: IEEE Transactions on Image Processing, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 32 ( 2023), p. 5231-5244

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 1057-7149 , 1941-0042

URL: Article

DOI: 10.1109/TIP.2023.3309110

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2023

ZDB Id: 2034319-X

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