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Park, Byoung-Gun ; Kim, Tae-Sung ; Lee, Kui-Jun ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2010

In: IEEE Transactions on Magnetics Vol. 46, No. 6 ( 2010-06), p. 1766-1769

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Details

In: IEEE Transactions on Magnetics, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 46, No. 6 ( 2010-06), p. 1766-1769

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9464

URL: Article

DOI: 10.1109/TMAG.2010.2043646

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2010

ZDB Id: 2025397-7

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