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Becchetti, F. ; Chao, Ch.-W. ; Martin, B. ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 1981

In: IEEE Transactions on Nuclear Science Vol. 28, No. 2 ( 1981), p. 1437-1440

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Details

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 28, No. 2 ( 1981), p. 1437-1440

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9499

URL: Article

DOI: 10.1109/TNS.1981.4331436

RVK:

UA 1000

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 1981

ZDB Id: 218510-6

ZDB Id: 2025398-9

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