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Mao, B.-Y. ; Chen, C.-E. ; Matloubian, M. ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 1986

In: IEEE Transactions on Nuclear Science Vol. 33, No. 6 ( 1986), p. 1702-1705

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Details

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 33, No. 6 ( 1986), p. 1702-1705

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9499

URL: Article

DOI: 10.1109/TNS.1986.4334668

RVK:

UA 1000

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 1986

ZDB Id: 218510-6

ZDB Id: 2025398-9

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