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Beck, M. J. ; Tsetseris, L. ; Caussanel, M. ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2006

In: IEEE Transactions on Nuclear Science Vol. 53, No. 6 ( 2006-12), p. 3621-3628

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Details

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 53, No. 6 ( 2006-12), p. 3621-3628

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9499

URL: Article

DOI: 10.1109/TNS.2006.885383

RVK:

UA 1000

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2006

ZDB Id: 218510-6

ZDB Id: 2025398-9

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