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King, M. P. ; Armstrong, A. M. ; Dickerson, J. R. ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2015

In: IEEE Transactions on Nuclear Science Vol. 62, No. 6 ( 2015-12), p. 2912-2918

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Details

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 62, No. 6 ( 2015-12), p. 2912-2918

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0018-9499 , 1558-1578

URL: Article

DOI: 10.1109/TNS.2015.2480071

RVK:

UA 1000

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2015

ZDB Id: 218510-6

ZDB Id: 2025398-9

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