In:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 63, No. 2 ( 2016-4), p. 543-547
Materialart:
Online-Ressource
ISSN:
0018-9499
,
1558-1578
DOI:
10.1109/TNS.2016.2530828
Sprache:
Unbekannt
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Publikationsdatum:
2016
ZDB Id:
218510-6
ZDB Id:
2025398-9