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Shi, Jinjing ; Wang, Wenxuan ; Lou, Xiaoping ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2023

In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence Vol. 45, No. 5 ( 2023-5-1), p. 6086-6095

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Details

In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 45, No. 5 ( 2023-5-1), p. 6086-6095

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0162-8828 , 2160-9292 , 1939-3539

URL: Article

DOI: 10.1109/TPAMI.2022.3203157

DOI: 10.1109/TPAMI.2022.3203157/mm1

RVK:

SQ 1100

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2023

ZDB Id: 2027336-8

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