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Liu, Shoubao ; Ruan, Jiangjun ; Zhang, Yadong ; [weitere]

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; 2011

In: IEEE Transactions on Plasma Science Vol. 39, No. 1 ( 2011-01), p. 94-99

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Details

In: IEEE Transactions on Plasma Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 39, No. 1 ( 2011-01), p. 94-99

Materialart: Online-Ressource

ISSN: 0093-3813 , 1939-9375

URL: Article

DOI: 10.1109/TPS.2010.2051164

Sprache: Unbekannt

Verlag: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Publikationsdatum: 2011

ZDB Id: 2025402-7

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